日本電子掃描電鏡是一種高精度的顯微鏡，通過使用聚焦電子束對(duì)樣品進(jìn)行成像。它可將物體放大到數(shù)十倍甚至上千倍以上，并能夠在納米尺度下觀測(cè)物體。主要由以下幾個(gè)部分組成：電源、光學(xué)系統(tǒng)、檢測(cè)器和計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)等。其中重要的是場發(fā)射槍和透射式檢測(cè)器。
 

　　當(dāng)加熱絲受到流過它的電流時(shí)，就會(huì)釋放出一些自由電子形成一個(gè)“云”。然后這些自由電子被強(qiáng)磁場集中起來并以較快速度向前飛行，在其運(yùn)動(dòng)軌跡上產(chǎn)生了連續(xù)不斷地輻射出各種頻率波段的能量。因此可以用探頭去接收這些信號(hào)從而得到有關(guān)樣品表面形貌與化學(xué)性質(zhì)信息。
 

　　日本電子掃描電鏡的功能特點(diǎn)：
 

　　1、高清晰度成像
 

　　相比傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡或其他低倍率顯微鏡，具有更高精確度和解析力，更容易獲取非常詳細(xì)的信息。同時(shí)，還具有高倍率的放大功能，使得科學(xué)家們可以觀察到物質(zhì)結(jié)構(gòu)上微小的細(xì)節(jié)。
 

　　2、微區(qū)分析
 

　　通過對(duì)樣品進(jìn)行掃描后可以獲得各種X射線和電子信號(hào)等。這些信號(hào)能夠提供關(guān)于樣品化學(xué)成分、晶體形態(tài)及表面特性等方面信息。因此，被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)藥、環(huán)境保護(hù)以及納米技術(shù)等領(lǐng)域。
 

　　3、高度自動(dòng)化
 

　　配備了多種先進(jìn)的功能模塊，并且能夠自動(dòng)調(diào)整焦距和亮度、選擇透鏡和光源參數(shù)以及實(shí)現(xiàn)3D成像等操作。這使得使用者不需要擁有過多專業(yè)知識(shí)或經(jīng)驗(yàn)也可以輕易地獲取高質(zhì)量的圖像結(jié)果。
 

　　4、無需特殊處理
 

　　在觀測(cè)前無需對(duì)樣品進(jìn)行復(fù)雜或繁瑣的預(yù)處理工作。只要將待檢測(cè)樣品直接置于儀器內(nèi)部即可實(shí)時(shí)獲得其相關(guān)信息。
 

　　5、遠(yuǎn)程操作
 

　　日本電子掃描電鏡支持遠(yuǎn)程連接方式和數(shù)據(jù)共享，在一定范圍內(nèi)用戶就能夠隨時(shí)隨地從計(jì)算機(jī)或移動(dòng)設(shè)備上進(jìn)行操作，這為科學(xué)家們帶來了更多的便利。